典型的 SCOL 套刻符號示意圖
包含疊加光柵結構的橫截面圖
近年來跟著制程節(jié)點的演進 ,速度、
埃瑞微深知,也印證了更先進制程的擴產帶來了量檢測設備更高價值量的需求),套刻設備每年為KLA奉獻了10億美金的收入體量 。然后在部件和整機功用層面構成顯著優(yōu)勢。因而 ,據預算,支撐300/200mm晶圓。超越80%的Overlay設備需求都來自先進制程工藝 。而經過丈量衍射圖譜的對稱性就能夠取得套刻差錯的信息。保證滿意的分辨率
典型的 SCOL 套刻符號示意圖
包含疊加光柵結構的橫截面圖
近年來跟著制程節(jié)點的演進 ,速度、
埃瑞微深知,也印證了更先進制程的擴產帶來了量檢測設備更高價值量的需求),套刻設備每年為KLA奉獻了10億美金的收入體量 。然后在部件和整機功用層面構成顯著優(yōu)勢。因而 ,據預算,支撐300/200mm晶圓。超越80%的Overlay設備需求都來自先進制程工藝 。而經過丈量衍射圖譜的對稱性就能夠取得套刻差錯的信息。保證滿意的分辨率