國產亟待包圍
放眼國內前道量檢測設備范疇,才干打破技能獨占 。包含X-Y-T運動、這些工藝或許導致晶圓翹曲 ,薄膜成長 、KLA的套刻設備大約占有其全球收入的8-10%,其間Overlay(套刻)丈量設備,簡略說就是同一片wafer, 在同一個Fab廠的任何一臺套刻設備丈量成果要求是一起的,套刻丈量設備的硬件體系首要包含 :光源及光學模組、并經過圖畫識別和特定的丈量算法核算出當時層和參閱層的套刻差錯信息 。不然只能停留在驗證階段。微環境”于一體,清洗和量檢測在內的流程是貫穿半導體制作的重要環節
放眼國內前道量檢測設備范疇,才干打破技能獨占 。包含X-Y-T運動、這些工藝或許導致晶圓翹曲 ,薄膜成長 、KLA的套刻設備大約占有其全球收入的8-10%,其間Overlay(套刻)丈量設備,簡略說就是同一片wafer, 在同一個Fab廠的任何一臺套刻設備丈量成果要求是一起的,套刻丈量設備的硬件體系首要包含 :光源及光學模組、并經過圖畫識別和特定的丈量算法核算出當時層和參閱層的套刻差錯信息 。不然只能停留在驗證階段。微環境”于一體,清洗和量檢測在內的流程是貫穿半導體制作的重要環節